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微区X射线荧光分析仪Atlas最新应用技术研讨会圆满结束
2017-06-05

2017518日上午,在天美公司北京总部成功举办了天美-IXRF公司微区X射线荧光分析仪Atlas最新应用技术研讨会。本次参会单位有幸邀请到了地质、刑侦、文博、钢铁、航天方面的专家学者及高校教授。

会议由天美北京办事处总经理王秀欣主持,天美(中国)科学仪器有限公司副总裁赵薇女士为研讨会致辞。之后,由天美市场部电镜产品经理武素芳女士就日立电镜的最新产品做了介绍。

随后,IXRF产品技术专家Kenny Witherspoon先生做了题为微区X射线荧光分析仪Atlas介绍及应用的报告,并在报告后进行了现场演示,为各位专家展示了Atlas极低的检测限,元素含量可以检测到PPM量级和强大的Mapping功能。参加此次研讨会的老师针对技术和应用问题进行了认真而热烈的讨论。

会议结束后,北京市电镜界的专家做了会议总结,给予Atlas极高的评价,并希望此类型会议能继续开展下去,为更多科研工作者提供更多的交流机会。

我们在此感谢各位专家的积极参与和热情支持,今后我们将再接再厉,继续为广大用户提供最好的服务! 


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